对多通道功率驱动照明和OLED寿命测量进行了优化。

M6000 PLUS OLED寿命测试系统是用来测试OLED材料在高、低温之间承受持续电源或环境变化的能力，从而了解在指定时间内降解引起的化学变化或物理损伤。适用于OLED器件，Panel,模组；寿命测试结果可作为改进和提高OLED材料质量的参考或依据。

-相对寿命测试

-相对I-V-L试验

-老化测试

-多电流/光电流范围

-方序列运算

-利用温/湿控制腔室进行加速测试   

参考客户：三星，LG，Apple,Merck, Toray,Dow,SK,斗山电子,喜星材料，出光，Novaled, Cynora, Applied Materials, Microoled,SUNIC,KAIST,ETRI, KETI,首尔大学......

京东方，天马微电子，华星光电，维信诺，深圳柔宇，彩虹，西安瑞联，鼎材科技，香港大学，清华大学，南京大学，南京邮电大学，华中科技大学，中科院苏州纳米所，中科院长春应化所，吉林大学，中科院理化所，上海交通大学，合肥工业大学......