飞行时间法（TOF）测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键，T3000飞行时间测量系统基于脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.

- 有机半导体中的载流子输运

- 电子/空穴迁移率的测量

- 飞行时间法测量(TOF)

- Dark Injection Transient (DIT)

- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

- 低温测量

参考客户：三星，LG，斗山电子,首尔大学，香港大学，中科院长春应化所，中科院福建物构所......