介绍：

OLED阻抗测量系统可分析样品的电特性。该设备可按顺序测量多个样品来增加用户的便利性，并在短时间内测量多个样品时获得可靠的数据。该设备可以在以固定偏执电压扫频的同时通过C-F测量来分析构成样品的阻抗元件，或在以固定频率扫频偏执电压的同时通过C-V测量电荷注入和迁移率。此外，通过添加ThermoStation作为选项，用户可以为每个样品指定独立的温度条件和循环，以分析各种温度条件下的特性。

- 电荷注入&迁移率分析

- 阻抗&电容分析

- CF,CV单工艺条件

- CFV,CVF多工艺条件