产品简介：

该测试系统在驱动OLED器件的同时，通过周期性的I-V-L测量，为OLED可靠性评估提供了各种参数。多通道I-V-L装置向OLED TEG的多个器件供电，并使用光电二极管测量激发光发射。由多通道I-V-L单元从电流和PD电流对应的电压扫描获得I-V-L(PD电流)特性曲线，所述多通道I-V-L单元被配置为通过配方或序列的组合来提供针对寿命变化的相对I-V-L变化数据的单个通道的分析。

产品特点：

- 相对寿命测试

- 相对I-V-L测试

- 老化测试

- 多电流/光电流范围

- 可存储多个Recipe

- 选配腔室型